0
จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง ประตูสู่โลกระดับจุลภาค
หนังสือ42.75 บาท
เนื้อหาโดยสังเขป

หนังสือเล่มนี้เป็นการเผยแพร่ความรู้ความเข้าใจเกี่ยวกับเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิงให้กว้างขวางขึ้นเพื่อให้ผู้ที่สนใจได้เข้าใจหลักการและสามารถประยุกต์ใช้ได้ถูกต้อง และยังเป็นการเพิ่มศักยภาพของประเทศทางด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี   ซึ่งในปัจจุบันเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิงได้เข้ามามีบทบาททั้งในงานวิจัยและพัฒนา รวมทั้งกิจกรรมต่าง ๆ ในอุตสาหกรรมการผลิตมากขึ้น

สารบัญ



สารบัญ

  • คำนิยมจากผู้อำนวยการศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ

  • คำนำ

  • จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง : ประตูสู่โลกระดับจุลภาค

  • การเปรียบเทียบแง่มุมต่าง ๆ ของ OM กับ SEM

  • SEM ทำงานอย่างไร ?

  • แหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน

  • ทัศนศาสตร์ของอิเล็กตรอน

  • ลักษณะการใช้งาน SEM

  • สัญญาณแบบต่าง ๆ

  • เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาดขั้นก้าวหน้า

  • ความก้าวหน้าทางด้านจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง

  • การเตรียมตัวอย่าง

  • ปริศนาภาพ

  • ภาคผนวก

  • ประวัติผู้เขียน

    รายละเอียดหนังสือ
    ISBN: 9742291888 (ปกอ่อน) 28 หน้า
    ขนาด: 185 x 256 x 4 มม.
    น้ำหนัก: 115 กรัม
    เนื้อในพิมพ์: ขาวดำ
    สำนักพิมพ์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (MTEC), ศูนย์
    เดือนปีที่พิมพ์: 2001
    สินค้าที่ลูกค้ามักซื้อด้วยกัน